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EMI試驗EMI（Electro Magnetic Interference)電磁干擾

試驗?zāi)康?FONT face="Times New Roman">: 驗證電磁波與電子元件作用后而產(chǎn)生的干擾現(xiàn)象，有傳導(dǎo)干擾和輻射干擾兩種。傳導(dǎo)干擾是指通過導(dǎo)電介質(zhì)把一個電網(wǎng)絡(luò)上的信號耦合(干擾)到另一個電網(wǎng)絡(luò)。輻射干擾是指干擾源通過空間把其信號耦合(干擾)到另一個電網(wǎng)絡(luò)，在高速PCB及系統(tǒng)設(shè)計中，高頻信號線、集成電路的引腳、各類接插件等都可能成為具有天線特性的輻射干擾源，能發(fā)射電磁波并影響其他系統(tǒng)或本系統(tǒng)內(nèi)其他子系統(tǒng)的正常工作。

試驗設(shè)備: 電磁干擾發(fā)生器

試驗樣品: 3PCS

試驗內(nèi)容：①.連續(xù)干擾電壓（150kHz～30MHz）;

         ②. 斷續(xù)干擾電壓（喀嚦聲）（150kHz、500kHz、1.4 MHz和30MHz）;

         ③. 干擾功率（30MHz～300MHz）

         ④．諧波電流（2～40次諧波）